Измерительное

Измерительное оборудование это все средства, а также принадлежности, за счет которых можно измерить различные единицы величины на основе практического метода.

Автоматизированный гидравлический пресс для нагружения камер давления c электрическими тензодачиками усилия.

Автоматизированный комплекс PPMS-9

Магнитометр предназначен для измерения намагниченности (на постоянном токе) малых образцов в условиях сильных магнитных полей и в широком диапазоне температур.

Ренгенодифракционные исследования ВТСП материалов.
Рентгенодифракционные исследования эпитаксиальных пленок и квантовых ям полупроводниковых материалов.

Фурье-спектрометр высокого разрешения IFS 125 HR производства фирмы Bruker Optic GmbH http://www.bruker.ru 

В криомагнитной системе 15 Тесла (Intermagnetics 165NS40H) осуществляются измерения проводимости на постоянном и переменном токе

Предназначена для измерений критических параметров ВТСП и СП проводников.

Криомагнитная система для исследований в магнитных полях до 21 Тесла

Позволяет проводить измерения в диапазоне температур 0.02-300 К и магнитных полей до 13 Т

Системы являются экономичными (по потреблению 4Не) и служат для экспресс-измерений в небольших магнитных полях

Назначение: измерение транспортных, магнитных и тепловых свойств материалов и наноструктур в диапазоне магнитных полей до 16Т 

Сферические камеры диаметром 14 мм, 23 мм, с фиксированным давлением до 2.5 ГПа для транспортных измерений.

Рентгеновский дифрактометр Panalytical X ’ PERT PRO MRD Extended предназначен для исследования тонких структурных особенностей монокристаллов и гетероэпитаксиальных пленок толщиной от нескольких нанометров до нескольких микрон.

Сканирующий туннельный микроскоп Solver-Pro NT-MDT предназначен для комплексных исследований различных объектов с высоким разрешением на воздухе, в жидкостях и контролируемой газовой атмосфере, при температуре до 150 С.

Модель JSM-7001F (JEOL ) представляет собой автоэмиссионный растровый электронный микроскоп.

СКВИД-магнитометр для измерений в малых полях предназначен для измерения магнитного момента в диапазоне температур 2 - 350 К и полей 0 - 2500 Oe

Предназначены для испытаний сверхпроводящих устройств диаметром до 0.9м и высотой до 1.2м, сверхпроводящих материалов в полях до 8Т, при токах до 1кА и ВТСП материалов и устройств с ВТСП элементами на переменном токе до 0.5кА

Автоматизированные системы для векторных измерений транспорта на переменном и на постоянном токе

Установка Helios NanoLab 660 находится на этапе ввода в эксплуатацию.

Установка для измерения параметров элементов наномеханики, наноэлектроники и квантовой логики при сверхнизких температурах