Результаты поиска для: Установки и оборудование для ультразвуковой обработки

Предназначены для испытаний сверхпроводящих устройств диаметром до 0.9м и высотой до 1.2м, сверхпроводящих материалов в полях до 8Т, при токах до 1кА и ВТСП материалов и устройств с ВТСП элементами на переменном токе до 0.5кА

Предназначена для измерений критических параметров ВТСП и СП проводников.

Системы являются экономичными (по потреблению 4Не) и служат для экспресс-измерений в небольших магнитных полях

Предназначена для измерения магнитных свойств полупроводниковых гетероструктур

 

Опубликовано в Оборудование

Предназначена для рентгеноструктурного анализа материалов

Характеристики

  • Мощность трубки — 600Вт
  • Материал анода — Cu
  • Фиксированная щель (на выходной пучок) — 1,25°; 0.625°
  • Щель подавления фона (на приемном пучке) — 1.25°
  • Приемная щель — 0.3мм
  • Радиус гониометра — 150мм
  • Диапазон углов сканирования —  -3  +145°
  • Минимальный шаг —  0.01°
  • Разрешение, не хуже — 0.01°
  • Детектор — сцинтилляционный NaI
  • Монохроматор Kb никелевый фильтр

 

 

 

 

 

 

Опубликовано в Оборудование

Предназначен для твердофазного синтеза высокотемпературных сверхпроводников

Опубликовано в Оборудование

Предназначен для оптического контроля качества микрообъектов и пленок

Опубликовано в Оборудование

Установка Helios NanoLab 660 находится на этапе ввода в эксплуатацию.

Предназначена для очистки и обработки поверхности наноструктур в кислородной плазме низкой плотности (с блоком генерации сверхчистого кислорода (99,999%) Кулон-10К).

Опубликовано в Оборудование
Страница 3 из 6