Результаты поиска для: Микроскопы атомно силовые сканирующие
Пятница, 06 мая 2016 21:30
Интерференционный микроскоп ЛЮМАМ И-3 (ЛОМО)
Предназначен для оптического контроля качества микрообъектов и пленок
Опубликовано в
Оборудование
Пятница, 06 мая 2016 21:11
Сканирующий электронный микроскоп JSM-7001F (JEOL)
Модель JSM-7001F (JEOL ) представляет собой автоэмиссионный растровый электронный микроскоп.
Среда, 04 мая 2016 19:54
Сканирующий туннельный микроскоп Solver-Pro NT-MDT
Сканирующий туннельный микроскоп Solver-Pro NT-MDT предназначен для комплексных исследований различных объектов с высоким разрешением на воздухе, в жидкостях и контролируемой газовой атмосфере, при температуре до 150 С.
