Результаты поиска для: Комплексы измерительно вычисли тельные для измерения электрических и магнитных величин

Испытание сверхпроводящих устройств диаметром до 0.9м и высотой до 1.2м испытание сверхпроводящих материалов в полях до 8Т, при токах до 1кА испытание ВТСП материалов и устройств с ВТСП элементами на переменном токе до 0.5кА

Предназначена для измерений вариаций химического потенциала с температурой  в диапазоне 4,2-300К, и полем в диапазоне 0 – 6Т

Сканирующий туннельный микроскоп Solver-Pro NT-MDT предназначен для комплексных исследований различных объектов с высоким разрешением на воздухе, в жидкостях и контролируемой газовой атмосфере, при температуре до 150 С.

Рентгеновский дифрактометр Panalytical X ’ PERT PRO MRD Extended предназначен для исследования тонких структурных особенностей монокристаллов и гетероэпитаксиальных пленок толщиной от нескольких нанометров до нескольких микрон.

Назначение: измерение транспортных, магнитных и тепловых свойств материалов и наноструктур в диапазоне магнитных полей до 16Т