Результаты поиска для: Дифрактометры рентгеновские специальные

Ренгенодифракционные исследования ВТСП материалов.
Рентгенодифракционные исследования эпитаксиальных пленок и квантовых ям полупроводниковых материалов.

Предназначена для рентгеноструктурного анализа материалов

Характеристики

  • Мощность трубки — 600Вт
  • Материал анода — Cu
  • Фиксированная щель (на выходной пучок) — 1,25°; 0.625°
  • Щель подавления фона (на приемном пучке) — 1.25°
  • Приемная щель — 0.3мм
  • Радиус гониометра — 150мм
  • Диапазон углов сканирования —  -3  +145°
  • Минимальный шаг —  0.01°
  • Разрешение, не хуже — 0.01°
  • Детектор — сцинтилляционный NaI
  • Монохроматор Kb никелевый фильтр

 

 

 

 

 

 

Опубликовано в Оборудование

Предназначен для твердофазного синтеза высокотемпературных сверхпроводников

Опубликовано в Оборудование

Установка Helios NanoLab 660 находится на этапе ввода в эксплуатацию.

Предназначена для очистки и обработки поверхности наноструктур в кислородной плазме низкой плотности (с блоком генерации сверхчистого кислорода (99,999%) Кулон-10К).

Опубликовано в Оборудование

Предназначена для производства микросхем.
Для маленьких и хрупких подложек используется экспонирование при низковакуумном контакте.
При этом виде контактирования снижается нагрузка по подложку. Достигается разрешение, превышающее параметры при мягком и жестком контакте.

Опубликовано в Оборудование

Предназначена для изготовления наноструктур на основе фоторезиста

Опубликовано в Оборудование

Установка предназначена для напыления пленок методом лазерного испарения в вакууме с использованием эксимерного лазера

Опубликовано в Оборудование

Установка предназначена для напыления плёнок методом термического испарения в вакууме: алюминия (1 установка), индия и свинца (2я установка).

Опубликовано в Оборудование
Страница 1 из 2