Результаты поиска для: Дифрактометры рентгеновские монокристальные
Вторник, 10 мая 2016 13:20
Дифрактометры ДРОН-2.0, ДРОН-3.0 и двухкристальный спектрометр ДТС-1.
Ренгенодифракционные исследования ВТСП материалов.
Рентгенодифракционные исследования эпитаксиальных пленок и квантовых ям полупроводниковых материалов.
Пятница, 06 мая 2016 21:32
Установка для рентгеноструктурного анализа Rigaku Miniflex 600
Предназначена для рентгеноструктурного анализа материалов
Характеристики
- Мощность трубки — 600Вт
- Материал анода — Cu
- Фиксированная щель (на выходной пучок) — 1,25°; 0.625°
- Щель подавления фона (на приемном пучке) — 1.25°
- Приемная щель — 0.3мм
- Радиус гониометра — 150мм
- Диапазон углов сканирования — -3 +145°
- Минимальный шаг — 0.01°
- Разрешение, не хуже — 0.01°
- Детектор — сцинтилляционный NaI
- Монохроматор Kb никелевый фильтр
Опубликовано в
Оборудование
Среда, 04 мая 2016 19:38
Рентгеновский дифрактометр X’Pert PRO MRD («PANAlytical)
Рентгеновский дифрактометр Panalytical X ’ PERT PRO MRD Extended предназначен для исследования тонких структурных особенностей монокристаллов и гетероэпитаксиальных пленок толщиной от нескольких нанометров до нескольких микрон.
