Новости науки

Усовершенствован бесконтактный метод оптической накачки и терагерцового зондирования, позволяющий измерять скорости рассеяния свободных носителей заряда и их рекомбинации Шокли-Рида-Холла в имплантированных примесью серы  слоях кремния – как в исходном неупорядоченном, так и рекристаллизованном после лазерного отжига состояниях. Сегрегация примеси при высоких концентрациях была подтверждена результатами молекулярно-динамического моделирования.

https://doi.org/10.1063/5.0304765

Сегрегация атомов серы в кремниевой решетке и эволюция крупнейшего кластера по времени